eng
Просмотры: 2125
13.09.2024
11 сентября 2024 года состоялся третий день работы Предконференции №1 «Доверенная и экстремальная электроника» форума «Микроэлектроника 2024».
Программа этого дня была посвящена одному тематическому блоку «Доверенная электроника» (модератор – к.т.н. Леонид Кессаринский), в рамках сессии которого было представлено 19 докладов. Выступления охватили широкий спектр вопросов, связанных с обеспечением надежности и безопасности электронных компонентов и систем. Обсуждались проблемы доверенности электронной компонентной базы, вопросы анализа угроз, аспекты безопасных вычислений, а также различные технические и методологические подходы к обеспечению защиты информации в электронных системах.
Юрий Сидорин (АО «НТЦ «Атлас») представил системный подход к анализу угроз нарушения доверенности микросхем и защите ЭКБ на всех этапах ее жизненного цикла. Максим Харченко (АО «ВЗПП-С») рассмотрел проблемные вопросы стандартизации, разработки и применения доверенной силовой ЭКБ отечественного производства, отметив, что отсутствие актуальной системы стандартов является внутренней угрозой и сдерживающим фактором развития новых направлений силовой ЭКБ.
Евгений Кульченков (БГТУ) в своем докладе рассказал о методе диагностирования изменений в топологии интегральных схем с помощью получения характерных откликов на радиационное воздействие. Александр Шемонаев (Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС») описал метод оценки уровней стойкости электронных компонентов к импульсным электрическим перегрузкам за счет минимального набора тестовых воздействий.
Несколько докладов были посвящены вопросам обеспечения доверия к программно-аппаратным комплексам (ПАК).
В докладе, представленном Олегом Дьяковым (АО «Аладдин Р.Д.»), речь шла об использовании технологии PKI, что позволяет создать доверенные цепочки поставок оборудования и программного обеспечения, поддержать выполнение технического аудита для защиты ПАК от фальсификаций.
В докладе Никиты Грибкова ( Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого) был представлен энтропийный подход к оценке эффективности тестовых испытаний встроенного ПО, направленный на выявление сценариев, максимально снижающих неопределенность в отношении алгоритмов функционирования ПАК.
Продолжил тему Павел Югай (Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого), который представил результаты практических исследований в области оценки доверенности ПАК, наличия в нем уязвимостей и вредоносного ПО, выполненных путем анализа его энергопотребления с помощью алгоритмов машинного обучения.
Анастасия Егорова (Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС») поделилась опытом разработки, изготовления, отладки и внедрения на производстве программно-аппаратного блока автоматического самотестирования испытательного комплекса космической аппаратуры БИВК для аттестации по требованиям ГОСТ РВ.
Алексей Мухин (АО «МЦСТ») рассказал о реализации технологии безопасных вычислений в процессоре «Эльбрус», которая позволяет защитить систему от внутренних ошибок и внешних угроз, и о потенциале ее применения в ПАК для КИИ.
На мероприятии прозвучали и другие доклады.
По окончании докладов состоялась активная дискуссия, в ходе которой участники обменялись идеями, мнениями и подвели итоги, обобщив основные выводы по заявленной тематике.
Юрий Сидорин (АО «НТЦ «Атлас») представил системный подход к анализу угроз нарушения доверенности микросхем и защите ЭКБ на всех этапах ее жизненного цикла. Максим Харченко (АО «ВЗПП-С») рассмотрел проблемные вопросы стандартизации, разработки и применения доверенной силовой ЭКБ отечественного производства, отметив, что отсутствие актуальной системы стандартов является внутренней угрозой и сдерживающим фактором развития новых направлений силовой ЭКБ.
Евгений Кульченков (БГТУ) в своем докладе рассказал о методе диагностирования изменений в топологии интегральных схем с помощью получения характерных откликов на радиационное воздействие. Александр Шемонаев (Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС») описал метод оценки уровней стойкости электронных компонентов к импульсным электрическим перегрузкам за счет минимального набора тестовых воздействий.
Несколько докладов были посвящены вопросам обеспечения доверия к программно-аппаратным комплексам (ПАК).
В докладе, представленном Олегом Дьяковым (АО «Аладдин Р.Д.»), речь шла об использовании технологии PKI, что позволяет создать доверенные цепочки поставок оборудования и программного обеспечения, поддержать выполнение технического аудита для защиты ПАК от фальсификаций.
В докладе Никиты Грибкова ( Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого) был представлен энтропийный подход к оценке эффективности тестовых испытаний встроенного ПО, направленный на выявление сценариев, максимально снижающих неопределенность в отношении алгоритмов функционирования ПАК.
Продолжил тему Павел Югай (Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого), который представил результаты практических исследований в области оценки доверенности ПАК, наличия в нем уязвимостей и вредоносного ПО, выполненных путем анализа его энергопотребления с помощью алгоритмов машинного обучения.
Анастасия Егорова (Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС») поделилась опытом разработки, изготовления, отладки и внедрения на производстве программно-аппаратного блока автоматического самотестирования испытательного комплекса космической аппаратуры БИВК для аттестации по требованиям ГОСТ РВ.
Алексей Мухин (АО «МЦСТ») рассказал о реализации технологии безопасных вычислений в процессоре «Эльбрус», которая позволяет защитить систему от внутренних ошибок и внешних угроз, и о потенциале ее применения в ПАК для КИИ.
На мероприятии прозвучали и другие доклады.
По окончании докладов состоялась активная дискуссия, в ходе которой участники обменялись идеями, мнениями и подвели итоги, обобщив основные выводы по заявленной тематике.
Российский форум «Микроэлектроника 2024»
Комментарии читателей
