Станкоинструмент - журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2499-9407

Книги по станкостроению

Статьи

Станкоинструмент #4/2024

Новости // все новости

17.03.2025

04.03.2025

События // все события

c 17.04.2025 до 18.04.2025

Тег "interferometer"

Наноиндустрия #5/2021
Б.Г.Турухано, Н.Турухано, И.А.Турухано
Запись голографических дифракционных решеток с помощью импульсного лазера

DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.5.312.319 В данной работе рассматривается устройство для записи голографических дифракционных решеток (ГДР) в импульсном лазере, которое позволяет повысить их точность и дифракционную эффективность для чего в интерферометре для записи решеток дополнительно введен второй источник когерентного излучения – импульсный лазер, расположенный на его входе и оптически связанный с ним. Это устраняет необходимость слежения за коррекциями во время засветки в силу малости величины длительности времени засветки. С этой целю в оптоэлектронную схему введен блок синхронизации, выход которого связан со вторым источником когерентного излучения импульсного действия, а вход с источником переменного напряжения оптоэлектронной схемы.

Станкоинструмент #1/2018
М. Ковальский
Метрология в цифровом производстве

Рассмотрены различные аспекты важности развития метрологического обеспечения в процессе реализации концепции четвертой промышленной революции – идеологии «Индустрия 4.0». Особое значение метрология приобретает в совокупности с цифровым производством. Показано, что метрология является основой конкурентоспособности и промышленной безопасности национальной экономики. УДК 67.05:53.08 DOI: 10.22184/24999407.2018.10.01.80.86

Наноиндустрия #5/2015
А.Потемкин, П.Лускинович, В.Жаботинский
Стандарты нано- и пикометрового диапазонов на основе мер перемещения

На основе монокристаллических материалов с обратным пьезоэффектом разработаны меры перемещения нано- и пикометрового диапазонов, которые могут применяться для калибровки сканирующих зондовых и электронных микроскопов. Измерения величин перемещений мер производилось оптическими интерферометрами на основе лазеров со стабилизацией частоты излучения брэгговской и цезиевой ячейками. Меры перемещения и интерферометры могут использоваться в качестве манипуляторов и сенсоров в технологическом оборудовании и измерительных приборах, а также при проведении лабораторных работ по наноматериалам, наномеханике и нанометрологии. DOI:10.22184/1993-8578.2015.59.5.74.80